고형시료

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석면분석

고형시료

고형시료

개요, 적용 범위 및 제한점

1. 개요

편광현미경을 이용한 고형시료 중 석면분석법은 시료 중 석면형태 입자의 굴절률을 확인함으로서 석면 여 부를 분석하는 방법으로 지붕재, 벽재, 단열재 등 대부분의 건축자재와 석면함유제품의 석면 함유여부 및 함유된 석면의 종류를 비교적 짧은 시간과 저렴한 비용으로 충분한 신뢰성을 가지고 분석할 수 있다. 분석 결과는 함유율(%)로 표현된다.

2. 적용 범위 및 제한점

편광현미경을 이용한 고형시료 중 석면분석법은 비교적 빠르고 저렴한 비용으로 시료 중 석면이 함유되었 는지 여부와 함유된 석면의 종류 및 함유율을 분석할 수 있어, 국내 법규상 건축물 중 석면해체 제거작업과 관련된 석면함유물질을 구분하기 위한 목적에 실용적으로 적용 가능하다. 다만 편광현미경을 이용한 정량적 분석결과는 대부분의 경우 엄밀한 의미의 중량비율은 아니다. 또한 정량분석 결과는 정확도 및 정밀도가 낮 은 사실상의 가정량 결과로 다른 일반적인 화학물질의 분석법과 같이 높은 정확도와 정밀도를 보이지 않는 다는 점에 유의해야 한다. 편광현미경을 이용한 석면분석법은 입자의 여러 가지 광학특성을 관찰해야 하므 로 시료로부터 제작한 표본에 석면 섬유 수가 몇 개 이하로 매우 적으면 정확한 정성분석이 어려울 수 있 다. 특히 편광현미경은 광학현미경의 일종으로 전자현미경에 비해 낮은 확대배율과 분해능을 가지므로 매우 가는 석면섬유를 함유할 수 있는 페인트, 바닥타일, 표면 퇴적먼지와 같은 시료에서는 석면이 있음에도 검 출하지 못하는 음성오류를 일으킬 수 있다. 이런 경우에는 필요에 따라 분석전자현미경을 이용해 추가로 분 석할 수 있다. 공기나 수질 중에 함유된 석면도 매우 작고 가늘어 분석 시 음성오류를 일으킬 가능성이 높 으므로 편광현미경법을 동 분석목적에는 적용하지 않는 것이 바람직하다.

3. 분석 절차

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